SPECTROM IDEX 采用空冷，低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直，聚焦，样品激发与一体，是功能强大的金属分析仪。SPECTROM IDEX 适合分析体积很小的样品或分析面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台，通过20倍变焦摄像机可精确的确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件，操作极为方便。测量点直径最小为0.7mm，样品的总测量时间不超过100秒。在测定贵金属合金中的金含量时，样品测量精度为0.15%。SPECTROM IDEX 也可满足快速分析的需要，在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。

    SPECTROM IDEX 不仅仅适用于珠宝行业，贵金属检验机构，海关商检，造币工业等，还可完成其它分析任务，如：非破坏性检查，贵金属分选，电子线路及电气元件的分析等。

技术规格：

仪器操作简便，直观。可提供在线帮助。

X射线管和检测器系统独特的几何设计其能够分析以前无法触及的样品表面。如：环形样品的内表面。

激发源：
Mo靶X光管
风冷
最大功率：30W
最高电压：50KV
测量点尺寸：最小0.7mm

样品室
长：520mm
宽：310mm
高：160mm
样品放大成像系统
手动样品台或固定样品用多轴向夹具。符合严格的德国X射线标准辐射防护标准

软件

菜单式软件，光谱仪参数调整和数据评估及计算

检测器

电制冷的Si漂移半导体计数器以Mn  κα线，在测量计数率为1000脉冲计数时，能量分辨率为：FWHM＜150eV
微处理器控制的检测器和读出电路

其它规格电压：100--127V或200--240V
，50/60Hz，2.6/1.0A
最大处尺寸：
长540mm
宽420mm
高560mm

底座尺寸：长540mm
宽：360mm
重量：40Kg